华虹宏力“集成半导体器件及其制备方法”专利公布

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天眼查显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司“拓扑保护光子线路设计方法及相关设备”专利公布,申请公布日为2024年8月21日,申请公布号为CN119133083A。

本申请提供一种集成半导体器件及其制备方法,其中集成半导体器件的制备方法中,采用DTI(第一深沟槽隔离结构、第二深沟槽隔离结构)和SOI(底层硅衬底、中间氧化层和顶层硅衬底)结合,形成全介质隔离,从而完全隔离SOI上的CMOS器件(本实施例以NMOS器件为例)和LDMOS器件,提高了芯片整体的抗EMI能力,并完全杜绝寄生双极效应,消除了闩锁的风险,从而提升了电路工作可靠性。

责编: 赵碧莹
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