铨兴科技“一种芯片老化自动测试方法、系统及介质”专利获授权

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天眼查显示,深圳市铨兴科技有限公司近日取得一项名为“一种芯片老化自动测试方法、系统及介质”的专利,授权公告号为CN117907810B,授权公告日为2024年5月17日,申请日为2024年3月19日。

本申请实施例提供了一种芯片老化自动测试方法、系统及介质,该方法包括:基于老化平台设定老化环境,采集老化环境参数,其中老化环境参数包括老化环境温度、老化环境湿度与光亮信息;基于老化测试电路随机生成老化测试信号对芯片进行老化测试,得到芯片运行数据;将芯片运行数据输入老化测试模型,得到老化测试信息;基于老化测试信息进行预测老化阶跃节点数量与老化阶跃持续时间;基于老化阶跃节点数量与老化阶跃持续时间进行调整老化测试信号的参数,进行老化加速测试;通过芯片运行数据对芯片老化测试过程中的老化测试信息进行采集分析,从而判断老化过程中的老化阶跃状态,进行老化加速测试,从而提高测试速度。


责编: 赵碧莹
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