燧原科技”一种芯片测试系统、方法、装置和存储介质“专利获授权

集微网消息，天眼查显示，上海燧原科技有限公司”一种芯片测试系统、方法、装置和存储介质“专利获授权，授权公告日为11月14日，授权公告号为CN116774020B。

图片来源：天眼查

专利摘要显示，本发明公开了一种芯片测试系统、方法、装置和存储介质，涉及芯片测试领域，该系统包括：管理控制模块、信号转接模块、信号中继模块、第一插损模拟模块以及多路复用器组；管理控制模块，连接多路复用器组，用于通过控制多路复用器组的端口通断状态构建目标通信链路，以及通过目标通信链路将中央处理器发出的测试信号发送给待测试芯片。

据悉，本发明实施例的技术方案，实现了服务器中多测试场景下的模拟链路构建，确保了测试结果覆盖了辅助运算装置在服务器中的多个业务场景，提升了测试结果的全面性，同时，该芯片测试系统还确保了各个通信链路下的测试结果基于相同的功能部件获取，提高了测试结果的准确性。（校对/刘沁宇）