在半导体存储芯片行业高速迭代的当下，精准、高效、稳定的芯片测试能力，是企业核心竞争力的核心标尺，更是产品品质与交付实力的硬核底气。博雅科技深耕NOR Flash存储芯片领域多年，始终以高端硬件配置、顶尖技术标准、严苛品控体系赋能产品升级。
公司已搭载行业标杆级ADVANTEST T5833存储器测试系统，相较于常规测试设备，T5833作为全球高端存储芯片测试的旗舰级设备，是晶圆测试、封装测试领域的标杆配置，拥有行业顶尖的测试精准度，整体时序精度高达±75ps，搭载高精度漏电流测试模块，可精准捕捉芯片电路细微缺陷，精准识别常规设备无法检测的隐性故障。设备配备256路独立电源通道，支持-10V~13V宽幅电压输出与-1V~4V输入输出电平范围，单通道最大输出电流1.2A，可适配各类高低规格存储芯片的电气性能测试，全面覆盖芯片电性参数、稳定性、可靠性、失效点位等全维度检测，彻底规避产品不良隐患，保障每一批出厂产品的品质一致性与稳定性。
此外，T5833提供源同步（Source Sync）功能，直接利用被测器件（DUT）输出的DQS信号对DQ数据输出进行锁存，可以支持200MHz以上的高频率测试，为公司FQ/T/X系列高性能产品规格测试提供有效支撑：
FQ系列NOR Flash
➤ 容量16Mb~2Gb；
➤ 电压支持1.8V，3.3V；
➤ 读取频率全系133MHz起，最高达200MHz，支持DTR读取模式，最高读取速度达1600Mbits/s;
➤ 极快擦写速度；
➤ 极低功耗。
T系列NOR Flash
➤ 容量512Mb~2Gb；
➤ 电压支持1.8V,3.3V；
➤ 读取频率200MHz，全系支持DTR读取模式，最高读取速度达1600Mbits/s;
➤ 极快擦写速度；
➤ 极低功耗；
➤ 超高可靠性，支持ECC,CRC。
X系列NOR Flash
➤ 容量512Mb~2Gb；
➤ 电压支持1.8V,3.3V；
➤ 读取频率200MHz，全系支持DTR读取模式，接口支持OSPI，最高读取速度达3200Mbits/s;
➤ 极快擦写速度；
➤ 极低功耗；
➤ 超高可靠性，支持ECC,CRC。
公司以国际顶尖测试设备为基础，全方位拉升公司测试精度、产品性能与产品可靠性，为客户提供系列高规格的NOR Flash存储产品。未来，我司将不断升级硬件设备、打磨服务能力，以高可靠性、严苛品质标准，助力客户产品对于NOR Flash的存储应用，携手共建半导体产业高质量发展新格局。
