天眼查显示，深圳市航顺芯片技术研发有限公司近日取得一项名为“半导体材料生长速率的测试方法基于ATE设备的MCU内部时钟校准方法、系统及芯片”的专利，授权公告号为CN117539323B，授权公告日为2024年10月18日，申请日为2023年11月14日。
本发明提供的基于ATE设备的MCU内部时钟校准方法、系统及芯片，具体涉及半导体技术领域，方案包括：启动MCU的内部时钟，并获取内部时钟的目标校准频率；基于目标校准频率，确定ATE时钟的频率，ATE时钟的频率为参考频率；基于参考频率及目标校准频率，获得典型值；利用内部时钟捕获ATE时钟的实时频率，初始化内部时钟的寄存器的各个位的值，并基于实时频率和典型值，构建二分操作规则，从高位开始向低位逐位轮循调整相应位的值，获得校准后的内部时钟。该方案能够提高校准精度，降低测试成本和芯片制造成本，并且对ATE设备的性能要求较低，能够提高ATE设备的适用范围。
