广立微良率分析平台DE-YMS助力灵动微电子挖掘MCU车规级芯片良率数据价值

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MCU,助力物联网智能化

MCU芯片是一种集成了中央处理器(CPU)、存储器、输入输出接口和时钟等关键组件的单片集成电路。它在各种嵌入式系统中得到广泛应用,按位数可分为 4/8/16/32/64 位。其中32 位应用场景比较高端,主要用于智能家居、物联网、电机及变频控制、安防监控、指纹识别等重要领域。

近日,广立微(Semitronix)与中国本土领先的通用 32 位 MCU 产品及解决方案供应商灵动微电子 (MindMotion)在良率数据管理分析业务领域达成合作:广立微DATAEXP系列产品作为灵动微电子的良率数据分析管理工具,广立微DE-YMS内置AEC-Q100车规芯片质量标准,为灵动微MCU芯片产品车规级认证分析提供助力

01 DE-YMS为客户业务报表搭建赋能

灵动微电子的工程师团队利用广立微DE-YMS自主搭建了WAT/CP/FT稳定性监测模版(良率趋势图、失效Bin趋势图、参数趋势图、参数CPK周期性报告OOS Summary),节约了数据清理和报告整理的时间,并可以根据自己设定的侦测规则快速定位是否有异常发生。

02 芯片全生命周期的数据管理、分析和追溯

灵动微电子的工程师团队表示可利用YMS Dashboard的数据展示及分析模块,高效地实现了多层面的异常分析

例如,客诉发生时,YMS可以协助迅速找到失效样品的所有数据信息,如批次、WAT、CP、FT等等是否有异常,实现全制程数据追踪;DE-YMS可实现跨站关联性分析,WAT参数与CP/FT各站点良率、失效Bin、参数相关性分析将帮助失效项原因追溯,不再是只见树木不见森林,借助数据间的关系来对异常进行立体化诊断;同时DE-YMS良好的交互方式使得多维度探索变得便利,可以很轻松的进行测试厂之间,测试机之间,S2S之间的良率差异,参数差异,Bin分布差异,Map差异等比较分析。

03 用户反馈

提升整体效益

模版定制使我们更多专注在数据分析上,省去了数据和报告整理的时间;良好的交互性使得探索更为便利,符合我们的工作习惯。——用户评价

全面的数据分析

在功能方面,对参数的Sensitivity分析,非常便利地评估了参数在卡紧规格线后的良率损失。

另外,重测分析也有利评估测试效率,可以对测试质量进行很好的评估。——用户评价

责编: 爱集微
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