广立微良率分析平台DE-YMS助力灵动微电子挖掘MCU车规级芯片良率数据价值

作者：爱集微 04-10 18:17

来源：广立微 #广立微#

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MCU，助力物联网智能化

MCU芯片是一种集成了中央处理器（CPU）、存储器、输入输出接口和时钟等关键组件的单片集成电路。它在各种嵌入式系统中得到广泛应用，按位数可分为 4/8/16/32/64 位。其中32 位应用场景比较高端，主要用于智能家居、物联网、电机及变频控制、安防监控、指纹识别等重要领域。

近日，广立微（Semitronix）与中国本土领先的通用 32 位 MCU 产品及解决方案供应商灵动微电子 (MindMotion)在良率数据管理分析业务领域达成合作：广立微DATAEXP系列产品作为灵动微电子的良率数据分析管理工具，广立微DE-YMS内置AEC-Q100车规芯片质量标准，为灵动微MCU芯片产品车规级认证分析提供助力。

01 DE-YMS为客户业务报表搭建赋能

灵动微电子的工程师团队利用广立微DE-YMS自主搭建了WAT/CP/FT稳定性监测模版（良率趋势图、失效Bin趋势图、参数趋势图、参数CPK周期性报告OOS Summary），节约了数据清理和报告整理的时间，并可以根据自己设定的侦测规则快速定位是否有异常发生。

02 芯片全生命周期的数据管理、分析和追溯

灵动微电子的工程师团队表示可利用YMS Dashboard的数据展示及分析模块，高效地实现了多层面的异常分析。

例如，客诉发生时，YMS可以协助迅速找到失效样品的所有数据信息，如批次、WAT、CP、FT等等是否有异常，实现全制程数据追踪；DE-YMS可实现跨站关联性分析，WAT参数与CP/FT各站点良率、失效Bin、参数相关性分析将帮助失效项原因追溯，不再是只见树木不见森林，借助数据间的关系来对异常进行立体化诊断；同时DE-YMS良好的交互方式使得多维度探索变得便利，可以很轻松的进行测试厂之间，测试机之间，S2S之间的良率差异，参数差异，Bin分布差异，Map差异等比较分析。

03 用户反馈

提升整体效益

模版定制使我们更多专注在数据分析上，省去了数据和报告整理的时间；良好的交互性使得探索更为便利，符合我们的工作习惯。——用户评价

全面的数据分析

在功能方面，对参数的Sensitivity分析，非常便利地评估了参数在卡紧规格线后的良率损失。