武汉新芯“存储器及擦除方法”专利公布

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集微网消息,天眼查显示,武汉新芯集成电路制造有限公司“存储器及擦除方法”专利公布,申请公布日为2024年2月20日,申请公布号为CN117577153A。

 本申请公开了一种存储器及擦除方法,该擦除方法通过先接收擦除指令,再判断擦除错误位、擦除错误地址是否符合擦除条件,然后响应于确定符合擦除条件而执行擦除模式,可以根据该擦除错误位在该擦除错误地址对应的存储空间上再执行擦除模式,能够更成功地擦除该擦除错误地址对应的存储空间;由于根据该擦除错误位在该擦除错误地址对应的存储空间上再执行擦除模式之前,不需要执行预编程模式,可以减少擦除方法的操作步骤,进而提高了擦除效率。

责编: 韩秀荣
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