胜科纳米第三届纳博会分析测试应用研讨会

关于“CHInano”

中国最具影响力的纳米技术交流盛会“中国国际纳米技术产业博览会”（CHInano），是中国最具权威、规模最大的纳米技术应用产业国际性大会。大会由峰会(主报告、专题技术分会、应用论坛)、展览、对接会等部分组成，重点聚焦纳米新材料、微纳制造、MEMS、能源与清洁技术、纳米生物技术等产业领域，打造国际纳米技术产业交流合作平台。

第三届纳博会分析测试应用研讨会

2020年10月28日-30日

苏州国际博览中心A1馆

主办单位

胜科纳米（苏州）有限公司

中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所测试分析平台

苏州纳米科技发展有限公司

中国半导体行业协会 MEMS 分会

分析测试论坛日程

随着半导体制造工艺的快速发展，倒置式光学系统在电性失效定位工作中起到了至关重要的作用。赛默飞推出的Meridian S系统作为静态光学失效定位工具中的杰出代表，在电性失效分析领域中被广泛应用，它可以对半导体器件中的电性故障、电路短路、漏电以及晶体管活动进行非破坏性地分析定位。

为了进一步推进Meridian S在半导体行业中的应用和发展，赛默飞携手胜科纳米将于10月28日下午和30日上午第十一届中国国际纳米技术产业博览会期间，各举办1场电性失效分析主题研讨会，现诚邀您参加本次研讨会，与同行一同探讨和分享电性失效分析技术进展！

本次研讨会，我们将讨论倒置式系统架构的优势，改进的静态激光调制（SLS），高分辨率的固体浸没式透镜（SIL）以及其他分析技术。

报名联系人

孙成成

18915421607 /（0512）62800006-8013

chengcheng@wintech-nano.com