近日，国内车载Serdes芯片新锐企业仁芯科技，宣布其首款车规级16Gbps高性能车载Serdes芯片R-LinC系列产品，在苏试宜特可靠性实验室，顺利通过了汽车电子协会制定的AEC-Q100 Grade2 质量测试与认证。
汽车应用对芯片的可靠性要求非常高，因此针对车规级芯片的质量测试标准尤为严格。AEC-Q100是由汽车电子协会AEC（Automotive Electronics Council）制定和推动的测试标准，针对每颗芯片进行严格的质量与可靠性确认，特别是对产品功能与性能进行标准规范测试。其在业内含金量极高，与消费及工业电子相比，AEC-Q100的车规认证更为严苛。
此次认证的项目包括加速环境应力实验（Accelerated Environment Stress Test），加速寿命模拟实验（Accelerated Lifetime Simulation Tests），封装组装整合实验（Package Assembly Integrity Tests），晶粒制造可靠性实验（Die Fabrication Reliability Tests），电器特性确认测试（Electrical Verification Tests）等。
仁芯科技R-LinC全系列产品，为了保证突出的质量和可靠性，采用业内头部的生产制造供应商和测试机构。在此次测试中，苏试宜特实验室严格按照AEC-Q100测试标准，并且仁芯在核心测试项目上比如HTOL, 采用业界唯一Tx和Rx产品联测方案，模拟芯片真实使用场景。同时，采用了加大测试样品数量以及更严苛的实验条件等方式，结果表明，全系列产品无一例失效！比如，在TX 产品91601上，HTOL标准的数量是77*3批次=231颗，0失效，但在实际实验中测试了953颗，0失效。同时，仁芯的此次测试，产品种类之多，实验数据之完整，在同行业中属于领先水平。
