兆易创新”芯片测试装置、测试板及芯片测试方法“专利公布

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集微网消息,天眼查显示,兆易创新科技集团股份有限公司”芯片测试装置、测试板及芯片测试方法“专利公布,申请公布日为10月27日,申请公布号为CN116955022A。

图片来源:天眼查

专利摘要显示,本申请提供一种芯片测试装置、测试板及芯片测试方法,该芯片测试装置包括第一测试板和第二测试板,所述第一测试板上的第一FPGA模块用于与多种存储器模块电连接,第一测试板上的第一EXMC接口连接器与所述第一FPGA模块电连接;第二测试板上的第二EXMC接口连接器用于与至少一种EXMC芯片电连接;所述第一EXMC接口连接器与所述第二EXMC接口连接器电连接,从而可以实现多种存储器模块共用一个测试板进行测试的目的,无需频繁插拔测试板,避免了对测试板的损坏。(校对/刘沁宇)

责编: 刘沁宇
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