天眼查显示，长鑫存储技术有限公司“存储芯片的测试方法及装置”专利公布，申请公布日为9月15日，申请公布号为CN116758970A。
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专利摘要显示，本公开提出一种存储芯片的测试方法及装置，适用于存储技术领域，可以解决，能够解决人工方式生成随机测试向量难以保证随机性和覆盖率，且容易发生错误的问题，可以提高存储芯片的测试效率。该方案包括：根据存储芯片的标准状态机，获取存储芯片的简化状态机，简化状态机用于描述存储芯片的主要功能；确定简化状态机中的状态跳转的重要性的指示信息；基于简化状态机的状态跳转的重要性的指示信息，生成存储芯片的测试向量。（校对/赵碧莹）
