• 收藏

  • 点赞

  • 评论

  • 微信扫一扫分享

普迪飞“芯知识”第三期报名开启|带你领略前所未有的半导体大数据分析方法

来源:普迪飞

#普迪飞#

04-16 11:50

半导体从设计、生产制造、测试到封装测试的过程中会产生各种数据,这些数据不仅格式复杂,数据量也极大,如何利用这些数据是一个难题。

传统的分析手段只能做到“诊断性分析”,即从分析中知道出现问题的原因,但想要做到“预见”,从数据里面提出价值,来预防可能发生的问题,这就需要用到大数据的方法了。此外,利用大数据的方法可以有效的提升分析效率。

在本次公开课中,拥有10年+经验的普迪飞数据科学专家将为你展示半导体中的大数据应用。

参与直播公开课并积极提问或回答问题的观众都有机会中奖哦~

前两期的中奖名单公布如下:

爱集微

作者

微信:

邮箱:jiwei@lunion.com.cn

作者简介

读了这篇文章的人还读了...