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NI携电子制造行业五大解决方案亮相慕尼黑华南电子展

来源:爱集微

#NI#

2020-11-16

集微网消息,近日,慕尼黑华南电子展在深圳国际会展中心举办,美国国家仪器有限公司NI Holdings(下称“NI”)携手其合作伙伴带来5个围绕电子制造行业的解决方案亮相首届慕尼黑华南电子展。

据NI亚太区高级市场经理郭翘介绍,此次主要带来的解决方案包括5G毫米波测试系统,手机快充机制自动化测试系统,电子制造行业测试设备管理、大数据分析企业级软件家族,NFC与支付自动化测试系统,数字MEMS麦克风测试系统。

其中,5G毫米波测试系统可以支持天线、终端、基站的毫米波频段测试,主要用于实验室的射频参数验证。其优势在于:第一提供NI独有的IP技术,实现硬件的闭环测控,可以提高5-10倍的测试效率;第二是提供完善的软件系统,可以支持波束成形的类似测试。

“毫米波频段为5G通信提供了更丰富的频段资源和更大的带宽,可以实现极低时延。”郭翘表示,由于毫米波波长短、天线尺寸极小,无法继续通过传导方式测试,只能使用OTA(Over the Air)的方法进行测试。而NI提供了完整的测试解决方案,包括软件、硬件及安装调试校准服务,来支持毫米波天线、终端、基站的OTA射频测试。

针对手机或者其他消费电子产品的快充功能,NI带来了手机快充机制自动化测试系统。在手机快充的时候,需要根据手机的温度进行功率的大小调整,以前多使用手工的方式,人工做记录再去改它的配置,而NI的软件可以自行导入测试脚本,适应所有手机的不同型号、不同功率大小的测试。

同时,NI的全自动化测试能够覆盖手机快充各要求测试阶段,包含温度模拟、上电、开机、快充、充电完成、关机等全环节。

而为了解决产线及自动化测试设备管理问题,NI推出了针对企业级的大数据分析软件系统。

第一是针对设备和系统管理,实现远程系统健康监控、软件远程部署、板卡校准管理、设备使用率等;第二是测试管理,包括测试结果监控、实时收集、趋势预测;第三是测试数据的标准化,建立索引,让全企业的工程师能够快速的找到历史的数据。

在生产和测试的大数据分析环节,NI的软件系统可以打通生产环节各数据孤岛,来优化制造工艺,加速全流程数据关联分析和根音分析(SPI/PnP/AOI/ICT/FCT),提升产品质量(返修与生产测试数据关联分析)。

郭翘表示:“今年6月公司收购大数据分析企业Optimal Plus,也是基于当前数字化转型时代的考量,希望为客户提供创新的软件和系统,利用强大的数据平台来解决客户的业务挑战。”

针对手机及银行卡使用NFC支付情况,NI带来了NFC与支付自动化测试系统。

以前因为用的人较少,电子制造行业对NFC的测试重视度不够;随着越来越多的人使用,投诉也越来越多。而想要降低产品的故障率,就需要在出厂前的研发阶段进行大量的测试。

为此,NI推出NFC与支付自动化测试系统,包含所有必须的硬件、软件、以及天线等配件,提供完整交钥匙的解决方案,覆盖全部NFC标准测试,包括模拟部分和数字部分。

伴随着智能音箱、车载智能助手、智慧家居等产品的爆发式增长,语音已经成为人工智能的主要交互方式,这加速了对高质量数字麦克风的测试需求。而原有基于数模转换的测试系统,已经无法满足高信噪比数字麦克风的测试要求。

针对此,NI推出数字MEMS麦克风测试系统。利用FPGA技术以及LabVIEWPDM解码工具包,代替数模转换过程,实现数字信号的直接解码,实现系统的低噪声水平;与此同时,该可以并行测试8个数字麦克风,大幅提升了产品的测试效率。

郭翘表示,未来NI将持续针对生产测试环节的需求推出新的产品,围绕标准化、智能化、可视化、无人化以及远程化,为客户实现其数字化转型目标。(校对/Lee)

责编: wenbiao

杨雪娇

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